Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
カテゴリ | ロジック - 特殊ロジック | |
製造元 | Texas Instruments | |
RoHS | 1 | |
動作温度 | -40°C ~ 85°C | |
取付タイプ | Surface Mount | |
サプライヤーデバイスパッケージ | 64-LQFP (10x10) | |
基本製品番号 | 74ABTH18646 | |
ロジックタイプ | Scan Test Device With Transceivers And Registers | |
供給電圧 | 4.5V ~ 5.5V | |
ビット数 | 18 | |
シリーズ | 74ABTH | |
パッケージ・ケース | 64-LQFP | |
その他の名前 | SN74ABTH18646APMG4-ND 2156-SN74ABTH18646APM SN74ABTH18646APMG4 -SN74ABTH18646APMG4 -296-4136-ND -296-4136 TEXTISSN74ABTH18646APM 296-4136 -SN74ABTH18646APM-NDR 296-4136-NDR -SN74ABTH18646APMG4-NDR |
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