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SN74BCT8244ADW
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
NOVA部品番号:
80-344961-SN74BCT8244ADW
製造メーカー部品番号:
SN74BCT8244ADW
ひょうじゅんほうそう:
25
技術データシート:
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Scan Test Device with Buffers IC 24-SOIC
| カテゴリ | ロジック - 特殊ロジック | |
| 製造元 | Texas Instruments | |
| RoHS | 1 | |
| 動作温度 | 0°C ~ 70°C | |
| 取付タイプ | Surface Mount | |
| サプライヤーデバイスパッケージ | 24-SOIC | |
| 基本製品番号 | 74BCT8244 | |
| ロジックタイプ | Scan Test Device with Buffers | |
| 供給電圧 | 4.5V ~ 5.5V | |
| ビット数 | 8 | |
| シリーズ | 74BCT | |
| パッケージ・ケース | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) | |
| その他の名前 | TEXTISSN74BCT8244ADW SN74BCT8244ADW-ND -SN74BCT8244ADW-NDR SN74BCT8244ADWE4-ND -SN74BCT8244ADWE4 SN74BCT8244ADWG4-ND 2156-SN74BCT8244ADW 296-47718 SN74BCT8244ADWG4 -SN74BCT8244ADWE4-NDR SN74BCT8244ADWE4 |
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