Альтиум
Орел
Оркад
ПОДУШКИ
Кикад
SN74LVTH182502APM
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
НОВА часть #:
80-345244-SN74LVTH182502APM
Производитель:
Номер детали производителя:
SN74LVTH182502APM
Стандартный пакет:
160
Технический паспорт:
Доступный формат загрузки
Пожалуйста, заполните вашу информацию в форме, мы свяжемся с вами и предоставим вам модель CAD как можно скорее.
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10)
| Категория | Логика - Специальность Логика | |
| Производитель | Texas Instruments | |
| RoHS | 1 | |
| Рабочая Температура | -40°C ~ 85°C | |
| Тип крепления | Surface Mount | |
| Пакет устройств поставщика | 64-LQFP (10x10) | |
| Базовый номер продукта | 74LVTH182502 | |
| Тип логики | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers | |
| Напряжение питания | 2.7V ~ 3.6V | |
| Количество бит | 18 | |
| Ряд | 74LVTH | |
| Пакет/кейс | 64-LQFP | |
| Другие имена | 296-8696-NDR -SN74LVTH182502APM-NDR 296-8696 74LVTH182502APMG4 2156-SN74LVTH182502APM TEXTISSN74LVTH182502APM -296-8696 -74LVTH182502APMG4-NDR 74LVTH182502APMG4-ND -296-8696-ND -74LVTH182502APMG4 |
In stock Пожалуйста свяжитесь с нами
Не та цена, которую вы хотите? Заполните формы, и мы свяжемся с вами как можно скорее.