Альтиум
Орел
Оркад
ПОДУШКИ
Кикад
SN74ABTH18652APM
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
НОВА часть #:
80-345283-SN74ABTH18652APM
Производитель:
Номер детали производителя:
SN74ABTH18652APM
Стандартный пакет:
160
Технический паспорт:
Доступный формат загрузки
Пожалуйста, заполните вашу информацию в форме, мы свяжемся с вами и предоставим вам модель CAD как можно скорее.
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
| Категория | Логика - Специальность Логика | |
| Производитель | Texas Instruments | |
| RoHS | 1 | |
| Рабочая Температура | -40°C ~ 85°C | |
| Тип крепления | Surface Mount | |
| Пакет устройств поставщика | 64-LQFP (10x10) | |
| Базовый номер продукта | 74ABTH18652 | |
| Тип логики | Scan Test Device With Transceivers And Registers | |
| Напряжение питания | 4.5V ~ 5.5V | |
| Количество бит | 18 | |
| Ряд | 74ABTH | |
| Пакет/кейс | 64-LQFP | |
| Другие имена | -296-4137 SN74ABTH18652APMG4-ND -SN74ABTH18652APMG4 -SN74ABTH18652APM-NDR TEXTISSN74ABTH18652APM -296-4137-NDR 296-4137 -296-4137-ND 296-4137-NDR SN74ABTH18652APMG4 -SN74ABTH18652APMG4-NDR 2156-SN74ABTH18652APM |
In stock Пожалуйста свяжитесь с нами
Не та цена, которую вы хотите? Заполните формы, и мы свяжемся с вами как можно скорее.