Alumínio
águia
Okad
Forro
Kikard
SN74LVTH182512DGGR
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Número da pe?a NOVA:
80-344908-SN74LVTH182512DGGR
Fabricante:
Número da pe?a do fabricante:
SN74LVTH182512DGGR
Embalagem padr?o:
2,000
Ficha técnica:
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ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-TSSOP
| Categoria | Lógica - Lógica Especializada | |
| Fabricante | Texas Instruments | |
| RoHS | 1 | |
| Embalagem | Tape & Reel (TR) | |
| Temperatura de operação | -40°C ~ 85°C | |
| Tipo de montagem | Surface Mount | |
| Pacote de dispositivos do fornecedor | 64-TSSOP | |
| Número do produto base | 74LVTH182512 | |
| Tipo Lógico | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers | |
| Tensão de alimentação | 2.7V ~ 3.6V | |
| Número de Bits | 18 | |
| Series | 74LVTH | |
| Pacote / Estojo | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) | |
| Outros nomes | 74LVTH182512DGGRG4-ND 74LVTH182512DGGRE4-ND -74LVTH182512DGGRE4-NDR 74LVTH182512DGGRE4 74LVTH182512DGGRG4 -SN74LVTH182512DGGR-NDR 296-8698-6 -74LVTH182512DGGRE4 296-8698-2 -296-8698-1 296-8698-1 -74LVTH182512DGGRG4 -296-8698-1-ND -74LVTH182512DGGRG4-NDR |
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