アルミニウム
ワシ
オーカード
パッド
キッカド
SN74LVTH182504APM
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
NOVA部品番号:
80-345228-SN74LVTH182504APM
製造メーカー部品番号:
SN74LVTH182504APM
ひょうじゅんほうそう:
160
技術データシート:
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ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10)
| カテゴリ | ロジック - 特殊ロジック | |
| 製造元 | Texas Instruments | |
| RoHS | 1 | |
| 動作温度 | -40°C ~ 85°C | |
| 取付タイプ | Surface Mount | |
| サプライヤーデバイスパッケージ | 64-LQFP (10x10) | |
| 基本製品番号 | 74LVTH182504 | |
| ロジックタイプ | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers | |
| 供給電圧 | 2.7V ~ 3.6V | |
| ビット数 | 20 | |
| シリーズ | 74LVTH | |
| パッケージ・ケース | 64-LQFP | |
| その他の名前 | 296-8697 -74LVTH182504APMG4 2156-SN74LVTH182504APM -296-8697 -74LVTH182504APMG4-NDR -SN74LVTH182504APM-NDR TEXTISSN74LVTH182504APM 296-8697-NDR -296-8697-ND |
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