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SN74BCT8373ADW
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
NOVA部品番号:
80-345259-SN74BCT8373ADW
製造メーカー部品番号:
SN74BCT8373ADW
ひょうじゅんほうそう:
25
技術データシート:
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Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC
| カテゴリ | ロジック - 特殊ロジック | |
| 製造元 | Texas Instruments | |
| RoHS | 1 | |
| 動作温度 | 0°C ~ 70°C | |
| 取付タイプ | Surface Mount | |
| サプライヤーデバイスパッケージ | 24-SOIC | |
| 基本製品番号 | 74BCT8373 | |
| ロジックタイプ | Scan Test Device with D-Type Latches | |
| 供給電圧 | 4.5V ~ 5.5V | |
| ビット数 | 8 | |
| シリーズ | 74BCT | |
| パッケージ・ケース | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) | |
| その他の名前 | SN74BCT8373ADWG4 2156-SN74BCT8373ADW -SN74BCT8373ADW-NDR SN74BCT8373ADWE4-ND SN74BCT8373ADWE4 SN74BCT8373ADWG4-ND TEXTISSN74BCT8373ADW |
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