ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
カテゴリ | ロジック - 特殊ロジック | |
製造元 | Texas Instruments | |
RoHS | 1 | |
動作温度 | -40°C ~ 85°C | |
取付タイプ | Surface Mount | |
サプライヤーデバイスパッケージ | 64-LQFP (10x10) | |
基本製品番号 | 74LVTH18652 | |
ロジックタイプ | ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers | |
供給電圧 | 2.7V ~ 3.6V | |
ビット数 | 18 | |
シリーズ | 74LVTH | |
パッケージ・ケース | 64-LQFP | |
その他の名前 | -SN74LVTH18652APMG4-NDR -296-12994-5 3301-SN74LVTH18652APM 2156-SN74LVTH18652APM 296-12994-5 SN74LVTH18652APMG4-ND 296-12994-5-NDR -SN74LVTH18652APM-NDR -SN74LVTH18652APMG4 TEXTISSN74LVTH18652APM SN74LVTH18652APMG4 -296-12994-5-ND |
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