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ワシ
オーカード
パッド
キッカド
SN74LVTH182646APM
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
NOVA部品番号:
80-345284-SN74LVTH182646APM
製造メーカー部品番号:
SN74LVTH182646APM
ひょうじゅんほうそう:
160
技術データシート:
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ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
| カテゴリ | ロジック - 特殊ロジック | |
| 製造元 | Texas Instruments | |
| RoHS | 1 | |
| 動作温度 | -40°C ~ 85°C | |
| 取付タイプ | Surface Mount | |
| サプライヤーデバイスパッケージ | 64-LQFP (10x10) | |
| 基本製品番号 | 74LVTH182646 | |
| ロジックタイプ | ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers | |
| 供給電圧 | 2.7V ~ 3.6V | |
| ビット数 | 18 | |
| シリーズ | 74LVTH | |
| パッケージ・ケース | 64-LQFP | |
| その他の名前 | 74LVTH182646APMG4 2156-SN74LVTH182646APM TEXTISSN74LVTH182646APM 74LVTH182646APMG4-ND |
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