アルミニウム
ワシ
オーカード
パッド
キッカド
SN74LVTH182502APM
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
NOVA部品番号:
80-345244-SN74LVTH182502APM
製造メーカー部品番号:
SN74LVTH182502APM
ひょうじゅんほうそう:
160
技術データシート:
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ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10)
| カテゴリ | ロジック - 特殊ロジック | |
| 製造元 | Texas Instruments | |
| RoHS | 1 | |
| 動作温度 | -40°C ~ 85°C | |
| 取付タイプ | Surface Mount | |
| サプライヤーデバイスパッケージ | 64-LQFP (10x10) | |
| 基本製品番号 | 74LVTH182502 | |
| ロジックタイプ | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers | |
| 供給電圧 | 2.7V ~ 3.6V | |
| ビット数 | 18 | |
| シリーズ | 74LVTH | |
| パッケージ・ケース | 64-LQFP | |
| その他の名前 | 296-8696-NDR -SN74LVTH182502APM-NDR 296-8696 74LVTH182502APMG4 2156-SN74LVTH182502APM TEXTISSN74LVTH182502APM -296-8696 -74LVTH182502APMG4-NDR 74LVTH182502APMG4-ND -296-8696-ND -74LVTH182502APMG4 |
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