Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 20-SBDIP
カテゴリ | ロジック - 特殊ロジック | |
製造元 | Advanced Micro Devices | |
RoHS | 1 | |
動作温度 | 0°C ~ 70°C | |
取付タイプ | Through Hole | |
サプライヤーデバイスパッケージ | 20-SBDIP | |
ロジックタイプ | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops | |
供給電圧 | 4.75V ~ 5.25V | |
ビット数 | 8 | |
シリーズ | - | |
パッケージ・ケース | 20-CDIP (0.300", 7.62mm) | |
その他の名前 | AMDAMDAM2954DC 2156-AM2954DC |
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