アルミニウム
ワシ
オーカード
パッド
キッカド
SN74ABTH18652APM
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
NOVA部品番号:
80-345283-SN74ABTH18652APM
製造メーカー部品番号:
SN74ABTH18652APM
ひょうじゅんほうそう:
160
技術データシート:
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Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
| カテゴリ | ロジック - 特殊ロジック | |
| 製造元 | Texas Instruments | |
| RoHS | 1 | |
| 動作温度 | -40°C ~ 85°C | |
| 取付タイプ | Surface Mount | |
| サプライヤーデバイスパッケージ | 64-LQFP (10x10) | |
| 基本製品番号 | 74ABTH18652 | |
| ロジックタイプ | Scan Test Device With Transceivers And Registers | |
| 供給電圧 | 4.5V ~ 5.5V | |
| ビット数 | 18 | |
| シリーズ | 74ABTH | |
| パッケージ・ケース | 64-LQFP | |
| その他の名前 | -296-4137 SN74ABTH18652APMG4-ND -SN74ABTH18652APMG4 -SN74ABTH18652APM-NDR TEXTISSN74ABTH18652APM -296-4137-NDR 296-4137 -296-4137-ND 296-4137-NDR SN74ABTH18652APMG4 -SN74ABTH18652APMG4-NDR 2156-SN74ABTH18652APM |
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