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Scan Test Device with Buffers IC 24-SOIC
Categoría | Memoria - Baterías | |
Fabricante | Texas Instruments | |
RoHS | 1 | |
Temperatura de funcionamiento | 0°C ~ 70°C | |
Tipo de montaje | Surface Mount | |
Paquete de dispositivo del proveedor | 24-SOIC | |
Número de producto base | 74BCT8244 | |
Tipo de lógica | Scan Test Device with Buffers | |
Voltaje de suministro | 4.5V ~ 5.5V | |
Número de bits | 8 | |
Serie | 74BCT | |
Paquete / Caja | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) | |
Otros nombres | TEXTISSN74BCT8244ADW SN74BCT8244ADW-ND -SN74BCT8244ADW-NDR SN74BCT8244ADWE4-ND -SN74BCT8244ADWE4 SN74BCT8244ADWG4-ND 2156-SN74BCT8244ADW 296-47718 SN74BCT8244ADWG4 -SN74BCT8244ADWE4-NDR SN74BCT8244ADWE4 |
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