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Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 20-SBDIP
Kategorie | Logik – Speziallogik | |
Hersteller | Advanced Micro Devices | |
RoHS | 1 | |
Betriebstemperatur | 0°C ~ 70°C | |
Befestigungsart | Through Hole | |
Gerätepaket des Lieferanten | 20-SBDIP | |
Logiktyp | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops | |
Versorgungsspannung | 4.75V ~ 5.25V | |
Anzahl der Bits | 8 | |
Serie | - | |
Paket/Koffer | 20-CDIP (0.300", 7.62mm) | |
Andere Namen | AMDAMDAM2954DC 2156-AM2954DC |
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