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SN74LVTH182512DGGR
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
NOVA-Teilenummer:
80-344908-SN74LVTH182512DGGR
Hersteller:
Hersteller-Teile-Nr:
SN74LVTH182512DGGR
Standardpaket:
2,000
Technisches Datenblatt:
Verfügbares Downloadformat
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ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-TSSOP
| Kategorie | Logik – Speziallogik | |
| Hersteller | Texas Instruments | |
| RoHS | 1 | |
| Verpackung | Tape & Reel (TR) | |
| Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C | |
| Befestigungsart | Surface Mount | |
| Gerätepaket des Lieferanten | 64-TSSOP | |
| Basisproduktnummer | 74LVTH182512 | |
| Logiktyp | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers | |
| Versorgungsspannung | 2.7V ~ 3.6V | |
| Anzahl der Bits | 18 | |
| Serie | 74LVTH | |
| Paket/Koffer | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) | |
| Andere Namen | 74LVTH182512DGGRG4-ND 74LVTH182512DGGRE4-ND -74LVTH182512DGGRE4-NDR 74LVTH182512DGGRE4 74LVTH182512DGGRG4 -SN74LVTH182512DGGR-NDR 296-8698-6 -74LVTH182512DGGRE4 296-8698-2 -296-8698-1 296-8698-1 -74LVTH182512DGGRG4 -296-8698-1-ND -74LVTH182512DGGRG4-NDR |
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